
HAST一般稱(chēng)為高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)或是高加速應(yīng)力試驗(yàn)。華碧實(shí)驗(yàn)室HAST測(cè)試實(shí)驗(yàn)室通過(guò)施加嚴(yán)酷的溫度、濕度并提高水汽壓力,水汽通過(guò)封裝材料或管腳滲透,用來(lái)評(píng)價(jià)元器件在潮濕環(huán)境中的可靠性,華碧實(shí)驗(yàn)室擁有專(zhuān)業(yè)資質(zhì)、經(jīng)驗(yàn)豐富的技術(shù)專(zhuān)家團(tuán)隊(duì),同時(shí)可根據(jù)客戶的技術(shù)需求,定制推薦合理的測(cè)試方案。
服務(wù)背景
電子設(shè)備主要是由電子元器件組成的,因此電子元器件的可靠性直接影響電子設(shè)備可靠性。電子元器件也是屬于比較“脆弱”的一種產(chǎn)品,溫度、濕度、振動(dòng)、鹽霧等各種環(huán)境應(yīng)力都可能會(huì)損傷電子元器件,造成電子設(shè)備的故障失效。根據(jù)大量失效數(shù)據(jù)分析,濕氣引起電子元器件的失效比例占20%左右。
HAST( Highly-Accelerated Temperature and Humidity Stress Test): 一般稱(chēng)為高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)或是高加速應(yīng)力試驗(yàn)。HAST測(cè)試通過(guò)施加嚴(yán)酷的溫度、濕度并提高水汽壓力,水汽通過(guò)封裝材料或管腳滲透,用來(lái)評(píng)價(jià)元器件在潮濕環(huán)境中的可靠性。
服務(wù)內(nèi)容
一、適用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.40/IEC 60068-66系列電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)C:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
JESD22-A110高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)
JESD22-A118加速防潮-無(wú)偏置高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)
AEC-Q汽車(chē)零部件車(chē)規(guī)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)
二、適用產(chǎn)品范圍
集成電路IC、晶體管、MOS管、電阻、電容、電感、LED、光伏元件、機(jī)電元件、傳感器等。
三、常規(guī)樣品要求
請(qǐng)聯(lián)系我們的業(yè)務(wù)或客服,以具體標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。
四、測(cè)試方法
U-HAST:無(wú)偏壓高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn),是測(cè)試電鍍和直接化學(xué)腐蝕的優(yōu)選方法.
B-HAST:偏壓高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn),與溫濕度偏壓試驗(yàn)(THB)對(duì)產(chǎn)品的破壞機(jī)理一致,是THB的加速測(cè)試,測(cè)試時(shí)器件必須以*小的功耗運(yùn)行。
常規(guī)測(cè)試條件
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常規(guī)測(cè)試條件 |
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溫度(℃) |
濕度(%RH) |
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110 |
85 |
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120* |
85 |
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130 |
85 |
*注:120℃/85%RH條件僅標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.40/IEC 60068-66適用
華碧實(shí)驗(yàn)室解決方案